-
1 interplanar spaces
-
2 basal spacing
-
3 interplanar spaces
Геология: межплоскостные расстояния
См. также в других словарях:
ПОВЕРХНОСТЬ — граница разделамежду двумя контактирующими средами. В разл. ситуациях употребляются такжетермины: свободная, или атом но чистая, П. (П. твёрдого тела в вакууме … Физическая энциклопедия
Гаюи закон — Аюи закон целых чисел, закон рациональности параметров, один из основных законов кристаллографии (См. Кристаллография), а также один из первых количественных законов атомно молекулярной структуры твёрдых тел (См. Твёрдое тело). Установлен … Большая советская энциклопедия
Дебая - Шеррера метод — метод исследования структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей (См. Дифракция рентгеновских лучей) (метод поликристалла). Назван по имени П. Дебая (См. Дебай) и немецкого физика П. Шеррера,… … Большая советская энциклопедия
БРЭГГА — ВУЛЬФА УСЛОВИЕ — определяет возможные направления возникновения максимумов интенсивности упруго рассеянного на кристалле рентг. излучения при дифракции рентгеновских лучей. Установлено в 1913 независимо друг от друга англ. физиком У. Л. Брэггом (W. L. Bragg) и… … Физическая энциклопедия
минерал — а; м. [от лат. minera руда] Природное вещество, приблизительно однородное по химическому составу и физическим свойствам, входящее в состав горных пород, руд, метеоритов. Полезные минералы. Коллекция минералов. Образование минералов. Обработка… … Энциклопедический словарь
Условие Вульфа — Брэгга — определяет направление возникновения дифракции максимумов упруго рассеянного на кристалле рентгеновского излучения. Выведено в 1913 независимо У. Л. Брэггом и Г. В. Вульфом. Имеет вид … Википедия
Закон Брэгга — Условие Вульфа Брэгга определяет направление возникновения дифракции максимумов упруго рассеянного на кристалле рентгеновского излучения. Выведено в 1913 независимо У.Л. Брэггом и Г.В. Вульфом. Имеет вид: , где d межплоскостное расстояние, θ угол … Википедия
Условие Вульфа-Брэгга — определяет направление возникновения дифракции максимумов упруго рассеянного на кристалле рентгеновского излучения. Выведено в 1913 независимо У.Л. Брэггом и Г.В. Вульфом. Имеет вид: , где d межплоскостное расстояние, θ угол скольжения падающего… … Википедия
Формула Брэгга-Вульфа — Условие Вульфа Брэгга определяет направление возникновения дифракции максимумов упруго рассеянного на кристалле рентгеновского излучения. Выведено в 1913 независимо У.Л. Брэггом и Г.В. Вульфом. Имеет вид: , где d межплоскостное расстояние, θ угол … Википедия
Тонкие плёнки — (англ. thin films) тонкие слои материала, толщина которых находится в диапазоне от долей нанометра (моноатомного слоя) до нескольких микрон[1]. Содержание 1 Описание 2 Получен … Википедия
Биотит — минералы из группы слоистых силикатов, подгруппы железисто магнезиальных триоктаэдрических слюд. Формула К (Mg, Fe)3 [AlSi3O10 (ОН, F)2]. Состав: SiO2 = 35%, Al2O3 = 9 ÷ 10%, Fe2O3 = 1 ÷ 5%, FeO = 15 ÷ 25%, MgO = 25 ÷ 28%, K2O … Толковый словарь по почвоведению